利用x射线激光干涉诊断等离子体电子密度  

Experimental diagnoses of plasma electron density by interferometry using an x-ray laser as probe

作　　者：王琛[1] 王伟 孙今人[1] 方智恒[1] 吴江[1] 傅思祖[1] 马伟新[1] 顾援[1] 王世绩[1] 张国平[2] 郑无敌[2] 张覃鑫[2] 彭惠民[2] 邵平 易葵 林尊琪 王占山[4] 王洪昌[4] 周斌[4] 陈玲燕[4] 金春水 

机构地区：[1]上海激光等离子体研究所,上海800229信箱上海201800 [2]北京应用物理与计算数学研究所,北京8009信箱北京100088 [3]上海光学精密机械研究所,上海800211信箱上海201800 [4]上海市同济大学物理系,上海200092 [5]长春光学精密机械研究所应光室,长春130022

出　　处：《物理学报》2005年第1期202-205,共4页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金 (批准号 :6998980 1);国家高技术惯性约束聚变基金(批准号 :863 80 4 7 3 )资助的课题~~

摘　　要：x射线激光探针干涉方法是诊断高温高密度激光等离子体电子密度等信息的重要工具 .利用神光Ⅱ装置输出激光驱动的类镍 银x射线激光作为探针 ,成功地进行了马赫 曾德尔干涉法诊断实验 ,获得了清晰的包含等离子体信息的动态干涉条纹图像 。The interferometry with. an x-ray laser as probe is an important tool of diagnosing the electron density of a high temperature and dense plasma. A successful experiment of diagnosing the density of a CH plasma was demonstrated by using a Ni-like Ag x-ray laser as a probe and a Mach-Zehnder interferometer as instrument under the ShenguangII laser facility. The legible interferogram indicating the information of electron density was obtained.

关 键 词：电子密度 激光等离子体 光干涉 X射线激光 临界面 激光驱动 干涉法 干涉条纹图 光探针 高密度 

分 类 号：O536[理学—等离子体物理]