MCM基板互连测试的单探针路径优化研究  

Research on single-probe traversal optimization for testing of MCM substrate interconnections

作　　者：许川佩[1,2] 许君华[3] 莫玮[3] 李智[3] 

机构地区：[1]西安电子科技大学机电工程学院 [2]桂林电子工业学院电子工程系,广西桂林541004 [3]桂林电子工业学院电子工程系

出　　处：《电路与系统学报》2005年第1期135-139,共5页Journal of Circuits and Systems

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60266001)

摘　　要：针对MCM基板互连测试所采用的单探针技术,本文提出一种基于蚁群算法的单探针路径优化算法,通过设定合适的规则,引导探针的移动,缩短探针移动的距离,达到减少测试时间提高MCM生产效率的目的。从基于MCM标准电路的仿真结果看,采用蚁群算法得到的探针测试路径长度远远优于其它算法所得到的。For the single-probe technology used for testing of MCM substrate interconnections, this paper presente a single-probe Traversal Optimization approach based on ant colony system algorithm. By finding suitable rules to pilot the probe to move, it can minimize the total distance traveled, so as to decrease the test time and to increase the MCM test throughput finally. Experiments on benchmark MCM netlists with single probe traversal confirm that our traversal optimization algorithm based on ACS has an increasing advantage over other algorithms in the total distance traveled.

关 键 词：MCM基板 互连测试 单探针 蚁群算法 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TN407[自动化与计算机技术—控制科学与工程]