DA-16晶体管毫伏表元件特性变异所致软故障分析  

THE ANALYSIS OF SOFT FAILURE BE CAUSED BY CHARACTERISTIC VARIANCE OF DA-16 TRASISTOR MILIVOLT APPARTUS ELEMENT

作　　者：严梭[1] 

机构地区：[1]武汉工业学院,武汉430023

出　　处：《大学物理实验》2002年第3期54-55,59,共3页Physical Experiment of College

摘　　要：本文介绍了晶体元件特性参数变异所致软故障分析判断。How to analyse and judge the sofrt failure be caused by varance of trasistor characteristic are given.

关 键 词：晶体管毫伏表 元件 DA 特性参数 分析判断 软故障 体元 

分 类 号：O734[理学—晶体学] TM933[电气工程—电力电子与电力传动]