碳纳米管制成的晶体管拥有高出25%的迁移率  

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作  者:杨英惠 

出  处:《现代材料动态》2005年第2期8-8,共1页Information of Advanced Materials

摘  要:美国马里兰大学的科学家制成了碳纳米管晶体管,其迁移率是硅晶体管的70倍。碳纳米管晶体管可以检出存贮器中的单个电子。碳纳米管的迁移率达100000cm^2/v.s,而锑化铟的迁移率是77000cm^2/v.s,硅的迁移率是1500cm^2/v.s。

关 键 词:迁移率 硅晶体管 碳纳米管晶体管 锑化铟 电子 管制 美国 存贮器 

分 类 号:TB383[一般工业技术—材料科学与工程] TN386[电子电信—物理电子学]

 

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