(CdTe—ZuTe)/ZnTe/GaAs(100)超晶格结构的X射线测定  

STRUCTURE DETERMINATION OF (CdTe-ZnTe)/ZnTe/GaAs(100) SUPERLATTICE BY X-RAY DIFFRACTION

作　　者：钟福民[1] 陈京一 朱南昌[1] 李杰[2] 袁诗鑫[2] 

机构地区：[1]中国科学院上海冶金研究所 [2]中国科学院上海技术物理研究所

出　　处：《应用科学学报》1993年第4期333-336,共4页Journal of Applied Sciences

基　　金：中国科学院上海冶金研究所青年基金资助课题

摘　　要：用X射线衍射,并结合X射线动力学衍射理论模型的计算机模拟方法,对(CdTe-ZnTe)/ZnTe/GaAs(100)应变超晶格材料的结构进行了研究,得到了其结构参数和信息.The X-ray diffraction (XRD) method was used in the investigation of the structure of (GdTe-ZnTe)/ZnTe /GaAs(100) strained-layer superlattice. The diffraction profile was analysed by means of the X-ray diffraction theory and computer simulation to obtain the structure parameters and information.

关 键 词：X射线衍射 超晶格 测定 半导体材料 

分 类 号：TN304.2[电子电信—物理电子学]