宽接触半导体激光器及激光器列阵丝状发光现象研究  

Phenomenon of Filament for Broad Contoct LD and LD Array

作　　者：吴小萍[1] 朱祖华[1] 

机构地区：[1]浙江大学信息电子工程学系

出　　处：《光学学报》1994年第10期1022-1025,共4页Acta Optica Sinica

基　　金：国家科委863高科技及集成光电子学国家重点实验室资助

摘　　要：用连续波电光检测法直接测量宽接触半导体激光器及激光器列阵的电场分布，分析器件的丝状发光现象，并初步解释了产生的原因．This poper introduces a new nondedructive method ── Continuous Wave Electro-Optic Probing (CWEOP) used fur detecting the electric field distribution of broad concoct semiconductor LD and LD array. The phenomenon of filaments is analysed and the cause is explained.

关 键 词：半导体激光器 电场分布 丝状发光 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]