朱祖华

作品数：17被引量：20H指数：3
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供职机构：浙江大学信息与电子工程学系更多>>
发文主题：电场分布半导体激光器激光器电场激光器列阵更多>>
发文领域：电子电信理学机械工程电气工程更多>>
发文期刊：《高技术通讯》《Journal of Semiconductors》《半导体光电》《光学学报》更多>>
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二维消像差平面场型凹面光栅的设计与成像分析被引量：3
《光学学报》1998年第8期1145-1148,共4页赵春华 朱祖华 陈抗生 杨易 
信息技术领域"863"高科技基金资助
给出了二维消像差平面场型凹面光栅的一般设计方法，推导了三点消像差光栅的成像条件，分析了平面场型光栅的成像质量与色散、分辨率及光栅宽度的关系。
关键词：凹面光栅 无像差点 像差 
InGaAsP/InP单片集成波长解复用器件
《半导体光电》1998年第1期44-47,共4页赵春华 朱祖华 陈抗生 杨易 王惠民 程宗权 陈兴国 胡雄伟 
国家"863"资助
报道了基于二维凹面光栅的单片集成波长解复用器件，器件刻蚀在ＩｎＧａＡｓＰ／ＩｎＰ平板波导上，通过凹面光栅的色散作用实现不同波长光的分离，光的输入输出耦合由波导阵列来完成，器件的工作波长在１．５μｍ附近，通道间隔约４．...
关键词：集成光学器件 凹面光栅 罗兰圆 波分复用 
凹面光栅型波长解复用器的标量波动分析被引量：7
《光学学报》1998年第3期308-313,共6页赵春华 朱祖华 陈抗生 杨易 
国家科委863高科技项目
利用标量波动衍射理论，通过对光栅槽面的数值积分，计算了罗兰圆型集成二维凹面光栅像点的光强分布。给出了光线追迹法难以得到的光栅槽面沿光栅圆不同方位刻划所引起的成像点对于光栅方程式计算位置的偏离；在对色散和分辨力的分析上...
关键词：罗兰圆 凹面光栅 波分复用器 标量波动衍射 
新颖光电子集成技术──异质半导体直接键合及其在器件研制中的应用
《高技术通讯》1997年第9期59-62,58,共5页朱祖华 丁桂兰 陈抗生 
国家自然科学基金
对十年来光电子集成技术的发展作了简要的回顾。着重介绍了近年来兴起的一种新颖的集成技术─-异质半导体直接键合技术的工艺和特点及其对新型光电子器件发展的推动。
关键词：直接键合 异质半导体 光电子集成技术 
连续波电光检测法用于检测超薄层异质结外延材料均匀性的研究被引量：1
《Journal of Semiconductors》1997年第5期350-355,共6页苏小元 朱祖华 
国家自然科学基金
本文以连续波电光检测法（CWEOP）为基本原理，设计完成了自动电光检测系统，并采用锁相放大技术，对超薄层异质结外延材料进行了电场分布的测试，由此对其均匀性进行了评估．通过实验探讨了超薄层异质结外延材料2DEG分布不均匀的电光...
关键词：分子束外延 连续波电光检测 异质结 外延材料 
InP系波导和光电探测器单片集成
《Journal of Semiconductors》1996年第1期51-54,共4页杨易 陈兴国 程宗权 王惠民 吕章德 蒋惠英 王晨 施惠英 吴学海 朱祖华 胡征 
国家自然科学基金
本文主要报道ＩｎＰ光波导和ＩｎＧａＡｓ－ＰＩＮ光电探测器的单片集成，包括材料生长、器件工艺、器件测试三个部份．器件的结构和制作方法较为简单，而代表器件性能的主要参数可与国外同类器件相接近，如光波导损耗最小为８．６ｄＢ...
关键词：磷化铟 光波导 光电探测器 单片集成 
GaAs／AlGaAs激光器及其列阵电流注入及电子线分布研究
《Journal of Semiconductors》1995年第9期659-662,共4页吴小萍 朱祖华 
国家八六三计划;集成光电子学国家重点实验室的支持
采用连续波电光检测法（ＣＷＥＯＰ）测量ＧａＡｓ／ＡｌＧａＡｓＤＨ激光器及其列阵在不同部位的电场分布。
关键词：激光器 砷化镓 ALGAAS 电流注入 电子线分 
新型光电子光源器件电场分布特性测试研究
《电子学报》1995年第5期91-93,共3页吴小萍 朱祖华 
国家八六三计划;集成光电子学国家重点实验室支持课题
本文介绍了应用连续波电光检测法（ＣＷＥＯＰ）对ＧａＡｓ／ＧａＡｌＡｓ双异质结激光器及其列阵和发光管列阵电场分布进行扫描测量的结果，研究了这三种光源器件不同部位的电场分布和电力分布特点及列阵器件的发光均匀性。
关键词：激光器 激光器列阵 发光管列阵 电场分布 
GaAs／GaAlAs激光器列阵有源区电场分布研究
《光学学报》1995年第7期958-960,共3页吴小萍 朱祖华 方祖捷 
用连续波电光检测法测量了激光器列阵发光区电场分布，并对其注入电流扩展作了模拟讨论。
关键词：注入电注 激光器列阵 连续波电光检测 GAALAS 
宽接触半导体激光器及激光器列阵丝状发光现象研究被引量：1
《光学学报》1994年第10期1022-1025,共4页吴小萍 朱祖华 
国家科委863高科技及集成光电子学国家重点实验室资助
用连续波电光检测法直接测量宽接触半导体激光器及激光器列阵的电场分布，分析器件的丝状发光现象，并初步解释了产生的原因．
关键词：半导体激光器 电场分布 丝状发光 
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