超晶格（CdTe－ZnTe）／ZnTe／GaAs（001）红外材料的X射线测定  

STRUCTURE DETERMINATION OF INFRARED MATERIAL OF (CdTe-ZnTe)/ZnTe/GaAs (001) SUPERLATTICE BY X-RAY DIFFRACTION

作　　者：钟福民[1] 陈京一 朱南昌[1] 李杰[1] 袁诗鑫[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海冶金研究所,中国科学院上海技术物理研究所

出　　处：《红外与毫米波学报》1994年第1期59-64,共6页Journal of Infrared and Millimeter Waves

基　　金：中国科学院上海冶金研究所青年基金

摘　　要：用Ｘ射线衍射并结合Ｘ射线动力学衍射理论模型的计算机模拟方法，对简单和复杂两种结构的（ＣｄＴｅ－ＺｎＴｅ）／ＺｎＴｅ／ＧａＡｓ（００１）应变超晶格材料的结构和完整性进行了研究，得到了它的结构参数．The structure perfection of infrared materials of (CdTes-ZnTe)/ZnTe superlattices grown on GaAs (001) by atomic layer epitaxy was investigated by X-ray diffraction (XRD), combined with the analysis of kinematical X-ray diffraction theory and computer simulation of dynamical X-ray diffraction theory. The structure parameters were obtained for the simple and the complex structures of superlattices.

关 键 词：X射线衍射 计算机模拟 红外材料 

分 类 号：TN213[电子电信—物理电子学]