特征分析技术的新进展  

作　　者：刘泽坚[1] 

机构地区：[1]上海交通大学

出　　处：《微电子测试》1994年第2期15-22,共8页

摘　　要：特征分析方法是数字系统测试中的一个研究课题,并且日益显示其重要意义。本文综述近年来国际上在这方面研究的新进展,其中包括特征分析技术在理论上的不断完善,特征分析中真伪混淆概率计算方面的进展,以及对近年来出现形式多样特征分析器本质的揭示等。

关 键 词：集成电路 测试 特征分析 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]