刘泽坚

作品数：7被引量：2H指数：1
导出分析报告
供职机构：上海交通大学电子信息与电气工程学院电气工程系更多>>
发文主题：VLSI时序电路CATCADASIC更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《计算机与现代化》《微电子学》《计算机辅助设计与图形学学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室开放课题基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-7
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
用于复杂数字系统测试的整体功能模型
《计算机辅助设计与图形学学报》1999年第6期542-546,共5页刘泽坚 陆宏达 杨莲兴 陈芹 
国家自然科学基金;复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室开放课题基金
运用《系统论》的思想，提出数字系统功能和复杂数字系统整体功能的概念，由此引伸出功能测试的新方法．这种方法可归结为通过复杂数字系统的分析，包括拓扑分析和逻辑分析，建立整体功能模型，据此找出验证测试所需的系统输入向量序列...
关键词：逻辑综合 数字集成电路 测试 功能模型 
逆向逻辑综合与功能测试建模
《微电子测试》1997年第2期6-13,共8页刘泽坚 
国家自然科学基金项目(批准号69376021);复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室课题(1996.9)
本文在分析时序电路故障检测试法存在难题的基础上,提出一种功能测试建模的新方法。具体内容包括:时序电路功能测试建模的要求;利用逆向逻辑综合方法完成同步时序电路测试的建模;以及异步时序电路功能测试建模的特点。这对时序电路功能...
关键词：时序电路 功能测试 建模 逆向逻辑综合 
硬件描述语言VHDL的表述特点及其综合过程
《计算机与现代化》1997年第4期15-18,46,共5页陈芹 刘泽坚 夏仁平 
VHDL是一种具备形式化、层次化和规范化的硬件描述语言。它能针对设计实体的多方面特性给出其不同层次上的表达方式：结构描述、数据流描述和行为描述。本文介绍VHDL的表达特点及其综合过程。
关键词：VHDL语言 硬件描述语言 VLSI 
对固定故障覆盖率的再认识和VLSI功能测试的展望
《微电子测试》1996年第3期21-25,共5页刘泽坚 
国家自然科学基金(标准号09376021)研究报告
在数字系统测试方法研究工作中,门级固定故障覆盖率已被沿用了几十年。本文综述近年来一些学者对此所作的分析。研究结果表明,单凭故障覆盖率,仍难以衡量测试工作的质量。用故障覆盖率来预料芯片测试筛选的失误率,带有明显的局限性。从...
关键词：VLSI 功能测试 故障覆盖率 
时序电路可及状态的枚举和自动测试生成被引量：1
《微电子测试》1995年第3期4-11,共8页刘泽坚 刘华 周天戎 胡逢曜 
国家自然科学基金;批准号09376021
复杂时序电路的测试生成被公认为VL-SI电路测试的难题之一。本文在分析已发表文献对此问题研究情况的基础上,提出一种实用的、可靠的测试生成方法。本方法的特点有二。一是以时序电路可及状态的分析为依据,建立同步、异步时序电路测试...
关键词：时序电路 VLSI电路 测试 可及状态 枚举 
特征分析技术的新进展
《微电子测试》1994年第2期15-22,共8页刘泽坚 
特征分析方法是数字系统测试中的一个研究课题,并且日益显示其重要意义。本文综述近年来国际上在这方面研究的新进展,其中包括特征分析技术在理论上的不断完善,特征分析中真伪混淆概率计算方面的进展,以及对近年来出现形式多样特征分析...
关键词：集成电路 测试 特征分析 
专用集成电路CAT技术的进展被引量：1
《微电子学》1992年第4期14-22,共9页林争辉 秦建业 刘泽坚 
本文简单地回顾了提高VLSI测试效率所采用的一些手段,讨论了在ASIC测试问题研究中出现的一些新观点、新方法、新动向,以及所取得的成果。在此基础上,文章阐明了ASIC测试技术的发展方向,并着重论述了可望在未来得到发展的,针对ASIC的功...
关键词：ASIC 功能测试 专用集成电路 CAD 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部