逆向逻辑综合与功能测试建模  

作　　者：刘泽坚[1] 

机构地区：[1]上海交通大学信控系

出　　处：《微电子测试》1997年第2期6-13,共8页

基　　金：国家自然科学基金项目(批准号69376021);复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室课题(1996.9)

摘　　要：本文在分析时序电路故障检测试法存在难题的基础上,提出一种功能测试建模的新方法。具体内容包括:时序电路功能测试建模的要求;利用逆向逻辑综合方法完成同步时序电路测试的建模;以及异步时序电路功能测试建模的特点。这对时序电路功能测试序列的自动生成有重要意义,因为有了这样的模型,时序电路的自动测试生成可归结为图论算法问题。

关 键 词：时序电路 功能测试 建模 逆向逻辑综合 

分 类 号：TN710.07[电子电信—电路与系统]