壳聚糖电离辐射降解的研究  

STUDY ON RADIATION DEGRADATION OF CHITOSAN

作　　者：张卫东[1] 李正魁[1] 朱佳廷[1] 汪兴海[1] 

机构地区：[1]江苏省农业农科院原子能利用研究所,江苏南京210014

出　　处：《核农学报》2005年第1期55-57,共3页Journal of Nuclear Agricultural Sciences

基　　金：江苏省自然科学基金资助项目 (BK2 0 0 1182 )

摘　　要：利用60 Coγ射线辐照技术 ,研究了壳聚糖辐射降解后产物分子量、粘度、微量元素与辐照剂量之间的关系。结果表明 ,1 0～ 45 0kGy的辐照剂量可以使壳聚糖的相对分子量由 8 2× 1 0 5降至 1 0× 1 0 3 左右 ,降解效果明显 ,最适辐照降解剂量为 47 75kGy ;经 1 0～ 45 0kGy剂量辐照 ,壳聚糖粘度减小 ,分子量和粘度均随辐照剂量的增大而降低。The relationship among product molecular weight, viscosity, trace element and 60Co γ-ray radiation are described in this paper. The result shows that 10～450kGy radiation could significantly reduce the relative molecular weight of chitosan from 82.0×104 to 1.0×103.The most suitable radiation dose for degradation is 47.75kGy. The viscosity of chitosan decreases with increasing of radiation dose.=

关 键 词：壳聚糖 辐射降解 辐照剂量 分子量 

分 类 号：O636[理学—高分子化学]