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出  处:《工业计量》2005年第2期61-61,共1页Industrial Metrology

关 键 词:IDDQ 摘要 数据校正 集成电路测试 深亚微米技术 测量不确定度 动态校准 测量系统 测试系统 波分复用 测试图形 超光滑 文摘 检索工具 

分 类 号:TB383[一般工业技术—材料科学与工程]

 

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