基于电路分割的低功耗扫描测试  

作　　者：仇健乐[1] 王世明[1] 郭筝[1] 

机构地区：[1]上海交通大学电子工程系,200030

出　　处：《集成电路应用》2005年第5期52-55,共4页Application of IC

摘　　要：本文基于电路分割的思想提出了一种低功耗扫描测试方法。该思想主要是将原始电路分成不同的几部分,每个部分能够单独进行扫描测试,通过减少同时被测的扫描寄存器的数量来达到降低测试功耗的目的。实验证明该方法使得扫描测试中的峰值功耗降低了60%,并且通过在电路中加入适当的wrapper结构,有效地解决了由于电路分割造成的故障覆盖率损失。

关 键 词：扫描测试 低功耗 电路 分割 WRAPPER 故障覆盖率 测试方法 实验证明 寄存器 思想 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]