《集成电路测试与可测性设计》的教学探索  

作　　者：闾晓晨[1] 李斌[1] 

机构地区：[1]华南理工大学物理科学与技术学院,广东广州510640

出　　处：《中山大学学报论丛》2005年第3期15-16,共2页Supplement to the Journal of Sun Yatsen University

摘　　要：跟随当前集成电路技术的发展,在微电子专业开设课程《集成电路测试与可测性设计》,完善了学生的专业知识结构。

关 键 词：《集成电路测试可测性设计》 微电子 教学研究 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]