探头旋转轨迹的变化对螺旋正电子断层摄影(SPECT)分辨率的影响  

Influence of SPECT Probe Rotation Locus on the Resolving Power

作　　者：赵世静[1] 

机构地区：[1]唐山工人医院,唐山063000

出　　处：《影像技术》2005年第2期56-56,39,共2页Image Technology

关 键 词：旋转轨迹 分辨率 断层摄影 探头 正电子 SPECT 螺旋 质量控制 临床诊断 直接影响 断层扫描 准确性 

分 类 号：S763[农业科学—森林保护学] TG306[农业科学—林学]