基于遗传算法和覆盖率驱动的功能验证向量自动生成算法  被引量:15

Coverage Directed Vector Generation for Functional Verification Using Genetic Algorithm

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作  者:罗春[1] 杨军[1] 凌明[1] 

机构地区:[1]东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏南京210096

出  处:《应用科学学报》2005年第4期375-379,共5页Journal of Applied Sciences

基  金:国家863专项(2003AA1Z1340);国家自然科学基金(60176018)资助项目

摘  要:提出了一种基于遗传算法和覆盖率驱动的RTL(registertransferlevel)代码功能验证向量自动生成算法.其特点是自动反馈覆盖率信息,构成一个闭环系统;用遗传算法动态分析覆盖率信息,自动生成针对性更强的验证向量.在SoC(syetemonchip)的模块验证中采用了该方法来自动生成验证向量;与受限随机生成方法相比,能快速达到覆盖率目标,缩短验证周期.With a new algorithm for coverage directed vector generation, a major challenge in the verification on the register transfer level by simulation is addressed. The approach is based on genetic algorithm, which provides an efficient way in forming feedback from the coverage domain back to the generator. This technique has been applied to the verification of an industrial SoC module, showing encouraging results and indicating that the quality of the verification is improved.

关 键 词:功能验证 向量自动生成 遗传算法 

分 类 号:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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