罗春

作品数：12被引量：42H指数：4
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发文领域：电子电信自动化与计算机技术轻工技术与工程更多>>
发文期刊：《电气电子教学学报》《电子器件》《固体电子学研究与进展》《今日电子》更多>>
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基于C参考模型的MPEG-4解码电路功能验证方法
《固体电子学研究与进展》2007年第2期258-263,共6页罗春 高谷刚 肖建 杨军 
国家863;个人信息处理终端SoC专项(2003AA1Z1340);国家自然科学基金;基于低功耗内建自测试的可测性设计方法研究(60176018)
提出一种基于C参考模型的MPEG-4解码电路功能验证方法,该方法首先用C语言来描述MPEG-4解码算法的IDCT(InverseDiscreteCosineTransform)、反量化和图像叠加,用HDL(HardwareDescriptionLanguage)语言来描述RTL(RegisterTransferLevel)硬...
关键词：功能验证 参考模型 MPEG-4 
基于矢量随机生成和断言的LCD控制器的验证被引量：1
《电子工程师》2006年第3期4-6,10,共4页杨弢 罗春 杨军 
随着SoC(片上系统)设计能力的快速发展和工艺水平的不断提高,芯片功能日益复杂,功能验证的任务也日渐加大。文中以LCD(液晶显示器)控制器为例,利用随机矢量生成技术和断言技术,实现了该控制器的功能验证。验证结果表明,采用两者相结合...
关键词：SOC 功能验证 断言技术 随机矢量 LCD控制器 
RTL代码域故障模型
《电路与系统学报》2006年第1期76-80,共5页罗春 杨军 高谷刚 顾明 
国家863计划资助项目(2003AA1Z1340);国家自然科学基金资助项目(60176018)
本文提出了一种Verilog RTL(Register Transfer Level)代码域故障模型和相应的测试点生成策略。该故障模型能准确全面地反映导致域错误的原因,而且需要测试点较少。与现有的一些故障模型做了比较,证明这种域模型和策略是有效可行的。
关键词：验证 域故障模型 测试点 覆盖率 
基于E语言的外部存储器接口的功能验证被引量：2
《电气电子教学学报》2006年第1期67-69,103,共4页金娟 罗春 
在SoC设计中,传统功能验证方法已显示出其缺点,主要问题有:复杂验证场景难以构建;边缘情况难以覆盖。针对这些问题,业界提出了一种新的功能验证方法学——受限随机矢量生成的功能验证,该方法在满足约束条件的前提下,随机产生验证矢量。...
关键词：外部存储器接口 受限随机矢量 验证 覆盖率 
基于PLI的AC97 Codec快速仿真模型设计
《电子工程师》2005年第12期9-12,共4页张文军 罗春 杨军 
随着数字系统日趋复杂,仿真的时间也越来越长。文中针对AC97的仿真提出了一种加快其仿真速度的方案:设计AC97 Codec的快速仿真模型,即使用Verilog PLI(程序语言接口)设计AC97 Codec数字接口部分周期精确的仿真模型来加速仿真。相对于Ver...
关键词：Vefilog PLI AC97 建模 快速仿真模型 
一种用于ADC电路的高速高精度比较器设计被引量：8
《应用科学学报》2005年第6期591-594,共4页吴光林 吴建辉 杨军 饶进 罗春 
国家自然科学基金资助项目(60176018)
在分析各种比较器设计失调消除技术基础上,提出了一种用于ADC电路的高速高精度比较器设计技术和失调消除技术.该比较器由主动复位和被动箝位的预放大器和输出锁存器构成,具有失调自动校准功能.仿真结果表明,在Chartered 0.35μm COMS工...
关键词：A/D转换器 比较器 失调消除技术 放大器 
基于遗传算法和覆盖率驱动的功能验证向量自动生成算法被引量：15
《应用科学学报》2005年第4期375-379,共5页罗春 杨军 凌明 
国家863专项(2003AA1Z1340);国家自然科学基金(60176018)资助项目
提出了一种基于遗传算法和覆盖率驱动的RTL(registertransferlevel)代码功能验证向量自动生成算法.其特点是自动反馈覆盖率信息,构成一个闭环系统;用遗传算法动态分析覆盖率信息,自动生成针对性更强的验证向量.在SoC(syetemonchip)的模...
关键词：功能验证 向量自动生成 遗传算法 
一款SoC的功能测试系统的设计被引量：6
《电子工程师》2005年第4期16-18,21,共4页关华深 罗春 罗明清 
针对一款基于ARM7TDMI处理器核的SoC(片上系统),设计了一个经济实用的功能测试系统,该系统采用宿主机/目标机结构。文中分析了该系统的Host程序和Monitor程序,然后以片外存储器接口模块测试、片上eSRAM(增强型SRAM)模块测试和USB客户端...
关键词：SOC 测试系统 模块测试 ARM7TDMI 
基于E语言和OVL库的功能验证方案被引量：1
《今日电子》2004年第12期77-80,共4页张保宁 罗春 钟锐 
提出了一种基于E语言和OVL库的功能验证解决方案,此方案可以自动产生测试矢量并确定设计缺陷的位置和严重等级。使用这种方法可以有效地缩短设计周期、降低设计成本,提高验证效率和质量。
关键词：功能验证 设计周期 测试矢量 解决方案 位置 降低 自动 设计成本 使用 设计缺陷 
可复用SPI模块IP核的设计与验证被引量：7
《单片机与嵌入式系统应用》2004年第11期5-8,共4页高谷刚 罗春 
SoC 是超大规模集成电路的发展趋势和新世纪集成电路的主流[1]。其复杂性以及快速完成设计、降低成本等要求,决定了系统级芯片的设计必须采用 IP(Intellectual　Property) 复用的方法。本文介绍以可复用 IP 设计方法,设计串行外设接口 S...
关键词：IP核 可复用 FPGA验证 超大规模集成电路 TSMC 系统级芯片 VERILOG语言 SPI模块 串行外设接口 设计 
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