大规模并行机的存储器测试  

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作  者:沈斌 欧策 

出  处:《电子计算机》1995年第2期1-9,共9页

摘  要:本文研究了测试细粒主工MIMD机器中存储块BIST算法的实现情况。得益于这些机器中的路由选择设备,实现了三种算法,给出了所得到的面积开销和测试时间结果。

关 键 词:存储器 测试 并行计算机 大规模 

分 类 号:TP333.06[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP338.6[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

 

参考文献:

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