a-Si:O:H对硅平面三极管的表面钝化  

在线阅读下载全文

作  者:邹永庆 华厚玉 

机构地区:[1]淮北煤炭师院物理系

出  处:《半导体技术》1995年第3期41-43,共3页Semiconductor Technology

摘  要:采用a-Si:O:H对硅平面三极管表面进行二次钝化,可以使器件正向特性曲线明显变平,饱和区、截止区变窄,反向击穿特性显著变硬,击穿电压有所提高,漏电流有了较大的减小,而且具有较强的Na ̄+阻挡能力。

关 键 词:硅平面 三极管 表面钝化 硅器件 a-硅∶氧∶氢 

分 类 号:TN325.2[电子电信—物理电子学] TN305.2

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象