检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]海军大连舰艇学院
出 处:《电子技术(上海)》1995年第1期18-20,共3页Electronic Technology
摘 要:对于厚度为10—100μm的薄膜,传统测厚方法是将薄膜从生产线上切下一条,然后送实验室用光学仪器测量。这种方法的缺点是测量时间长、速度慢。本文介绍一种以8098单片机为核心的β射线薄膜测厚仪,精度高、速度快,能满足薄膜生产线高精度在线实时测厚的要求。
分 类 号:TH821.1[机械工程—仪器科学与技术]
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