双光路法测量化合物及合金熔体平衡蒸气分压  

TWO-OPTICAL-PATH MEASUREMENT OF THE EQUILIBRIUM PRESSURE OVER COMPOUND AND ALLOY MELTS

作　　者：周书铨[1] 桑文斌[1] 谢敏[1] 吴汶海[1] 

机构地区：[1]上海科学技术大学

出　　处：《应用科学学报》1989年第3期271-274,共4页Journal of Applied Sciences

基　　金：国家自然科学基金会项目

摘　　要：由(Hg_(1-(?))Cd_x)_y(Te_(1-y))在不同温度下的蒸气分压,可以求得P～T～x的关系,从而指导长晶工艺和液相外延,提高晶体质量.因此,平衡蒸气分压的测定,在理论上和经济上均有重要意义.但是,人们不能用压力计来测量高温、高压下气体的压力,特别是有强烈腐蚀性的气体.压力计将被腐蚀而不能正常工作.再说,压力计也只能测量化合物蒸气压的总压力,而不能测量各组分的分压.因此,测量高温、高压下化合物或合金熔体蒸气分压只能用间接的方法,这给技术上带来一定困难.目前有高压迥流法、露点法及光谱吸收法等.文献[4]报道了单光路法测定CdTe熔体平衡蒸气分压.This paper presents the two-optical-path measurement, by means of which the partial pressures over the compounds and alloys at high temperatures and high pressures can be determined. Real time comparisons and digital display of results were adopted in the measuring system. The influences caused by varying the light source, environment, and other factors were found to be reduced.

关 键 词：双光路法 化合物 合金 压蒸气分 

分 类 号：TQ036[化学工程]