用单板机控制的晶体管参数综合测试系统  

作　　者：商周 王世军 

机构地区：[1]哈尔滨工人业余大学

出　　处：《电测与仪表》1989年第6期37-39,共3页Electrical Measurement & Instrumentation

摘　　要：为进行晶体管老化试验,对晶体管批量参数测试,采用运算速度快、功能多的单板计算机解决晶体管老化台的控制。文中介绍了接口电路、硬件、软件的设计。

关 键 词：单板机控制 晶体管 参数测试系统 

分 类 号：TN320.407[电子电信—物理电子学]