LM331的V/F电路调试中的若干问题分析  被引量:4

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作  者:林健[1] 

机构地区:[1]北京航空航天大学706教研室,100083

出  处:《集成电路应用》1995年第2期36-39,共4页Application of IC

摘  要:本文结合LM331的V/F转换原理及实验数据,探讨了其电路调试过程中出现的若干问题及解决方法。

关 键 词:单片机 V/F转换 电路调试 

分 类 号:TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

参考文献:

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引证文献:

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