检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]山东工业大学数理系
出 处:《山东工业大学学报》1995年第1期86-92,共7页
摘 要:此文针对气敏器件的某些实验曲线采用适当的数学模拟,全面分析了用针孔注入还原气体闭室测试气敏器件的电导响应及测试过程中出现的过冲现象,找出了其中的规律,探讨了过冲现象产生的机理.The mathematical imitation in experimental curve is properly used to analyse the over-shot phenomenon appearing in the response to electric conductance when testing gas sensors by injecting reduction gas to a closed room. The regularity has been found and the development of systematic principle of over-shot has been discussed.
分 类 号:TN379[电子电信—物理电子学] O472.4[理学—半导体物理]
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