单链扫描可测性设计中存储元件的排序  

Ordering of Storage Elements in a Single Scan Chain Design for Testability

作　　者：叶波[1] 郑增钰[1] 

机构地区：[1]复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室

出　　处：《微电子学》1995年第3期27-30,共4页Microelectronics

摘　　要：本文提出了扫描设计中存储元件在扫描链中的最优排序方法。采用交迭测试体制和区间法能快速求出最优解。对于确定的测试向量集，用该方法构造的扫描链能使电路总的测试时间最少。An optimal sequencing of the storage elements in the single scan chain design for- testability is presented in the paper.A fast optimal solution can be obtained by using overlapped test scheme and region representation. For a fixed set of test vectors,the overall test time can be minimized using the scan chain constructed with this method.

关 键 词：CAD 集成电路 单链扫描可测性 存储元件 排序 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]