检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《无损检测》1995年第12期331-334,共4页Nondestructive Testing
摘 要:根据红外无损检测原理,提出了缺陷的定量检测方法,并探讨了F-4型半导体功率管管壳焊料烧结质量的检测方法,最后给出了热图象的计算机处理结果。Quantitative evaluation of defect according to infrared nondestructive testing principle and quality testing of solder layer of F-4 power transistor package are described. Computer processing results of infrared thermal images are also given.
分 类 号:TN21[电子电信—物理电子学] TN304.07
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.28