130例智力低下儿童脆性X检测报告  

作　　者：王怀立[1,2] 刘松茂[1,2] 高铁铮[1,2] 王应太[1,2] 

机构地区：[1]河南医科大学第一附属医院儿科 [2]河南省人民医院

出　　处：《遗传》1995年第5期11-13,共3页Hereditas（Beijing)

摘　　要：本文采用脆性Ｘ检测技术对１３０例先天性智力低下儿童进行了细胞遗传学研究，结果共发现２７例具有染色体异常。其中ｔ（５；１５）及ｔ（８；１２），ｉｎｖ（９）两例核型，经鉴定为世界首报核型；检出５例脆性Ｘ综合征，检出率为３．７７％，占异常核型的１８．５％。

关 键 词：脆性X综合征 智力低下 儿童 诊断 

分 类 号：R725.961[医药卫生—儿科]