晶态Si_3N_4/非晶SiO_2同轴纳米线的电子显微学研究  

Electron microscopic studies on crystalline Si3 N4/amorphous SiO2 nanocables

作　　者：尤力平[1] 冉广照[2] 

机构地区：[1]北京大学物理学院电子显微镜实验室,北京100871 [2]北京大学物理学院国家介观物理实验室,北京100871

出　　处：《电子显微学报》2005年第4期277-277,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：SI3N4 电子显微学 SIO2 纳米线 同轴 场发射电子显微镜 非晶 晶态 微观组织结构 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]