多层陶瓷电容器流延瓷膜的原子力显微镜分析  

Microstructure analysis of multilayer capacitor(MLC) green tapes by AFM

作　　者：马丽丽[1] 包生祥[1] 戴林杉[1] 曾慧中[1] 

机构地区：[1]电子科技大学材料分析中心,四川成都610054

出　　处：《电子显微学报》2005年第4期318-318,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

关 键 词：多层陶瓷电容器 原子力显微镜分析 流延膜 原子力显微镜(AFM) 表面形貌 晶粒尺寸 粗糙表面 表面微结构 AFM成像 

分 类 号：TM53[电气工程—电器]