原子分辨率的原子序数衬度成像及应用  

Atomic resolution Z-contrast imaging and application

作　　者：李斗星[1] 

机构地区：[1]中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室,辽宁沈阳110016

出　　处：《电子显微学报》2005年第4期245-245,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.90206044);国家重点基础研究发展规划资助项目(No.2002CB613503).

关 键 词：Z衬度像 原子分辨率 原子序数 成像方法 YBA2CU3O7-X 应用 空间分辨率 电子显微学 STEM 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]