半导体激光器可靠性评估系统设计  

Design of Semiconductor Laser Reliability Evaluation System

作　　者：胡小玲[1] 徐萍萍[1] 阮颖[1] 于海鹰[1] 高国[1] 王林[1] 赵夕彬[2] 

机构地区：[1]北京工业大学电控学院,北京100022 [2]中国电子科技集团公司第十三研究所,石家庄050051

出　　处：《半导体技术》2005年第9期37-38,42,共3页Semiconductor Technology

基　　金：国家863成果产业化技术研究项目资助(H010110310112)

摘　　要：介绍了一种基于单片机控制的可预置工作电流值、工作温度值的半导体激光器可靠性评估系统的软、硬件设计方法。该方法以89C51单片机为核心部件,通过闭环反馈控制系统对工作电流、工作温度进行比较、调整,提高系统精度。该可靠性评估系统可实时显示工作电流及工作温度值。This paper describes the hardware and software design methodology for semiconductor laser burn-in equipment controlled by single-chip microcomputer. This equipment controlled by singlechip microcomputer could setup burn-in current and temperature, and use the feedback loop controlled system to compare and adjust the burn-in current and temperature, so that it has high accuracy. The equipment could display working current and temperature.

关 键 词：单片机 半导体激光器 MOS管驱动电路 温度控制 

分 类 号：TN248.4[电子电信—物理电子学]