提高凝视红外焦平面成像均匀性的校正技术研究  

作　　者：胡劲忠[1] 

机构地区：[1]中国科学院上海技术物理研究所,上海200083

出　　处：《红外》2005年第9期15-18,共4页Infrared

摘　　要：凝视红外焦平面成像系统经常需要根据目标红外辐射强度来修改探测器积分时间。当积分时间变化后,红外图像的均匀性会明显变差。本文探索了一种将积分时间校正与目前实用性较好的两点温度定标法相结合的焦平面非均匀性校正方案。该方案不仅能使红外图像的均匀性得到较大幅度的提高,而且在修改积分时间的情况下图像均匀性不会受到影响。

关 键 词：焦平面阵列非均匀性校正 两点温度定标 积分时间 红外焦平面成像 非均匀性 校正技术 凝视 红外辐射强度 红外图像 成像系统 

分 类 号：TN21[电子电信—物理电子学]