一种基于嵌入式微处理器内核模块的测试  

A Method of Testing Embedded Intellectual Property Cores

作　　者：黄俊[1] 须文波[1] 李辉[1] 

机构地区：[1]江南大学信息工程学院,江苏无锡214122

出　　处：《微电子学与计算机》2005年第10期66-69,共4页Microelectronics & Computer

摘　　要：基于可复用的嵌入式IP内核模块的系统级芯片(SoC)设计方法使测试面临新的挑战。文章针对IP内核模块测试所面临的技术难点,介绍了IP核模块实现测试所需要构建的硬件环境和通用结构,并以嵌入ARM微处理器核的SoC为例,提出了具体的测试解决方案。The system-on-chip（SoC） based on reusable embedded IP（intellectual property） cores pose new challenge for test. A novel test methodology is described in this paper along with its structure. A typical system on chip（SoC） test carried out at ARM is also presented as a case study.

关 键 词：系统级芯片 知识产权(IP) 微处理器核 内建自测试 

分 类 号：TP306[自动化与计算机技术—计算机系统结构]