一种新型椭偏测量实验——塞曼激光外差椭偏仪  

作　　者：邓元龙[1] 孙秀泉[1] 吴玉斌[1] 

机构地区：[1]深圳大学工程技术学院,广东,深圳,518060

出　　处：《物理通报》2005年第10期33-34,共2页Physics Bulletin

基　　金：深圳大学校科研和教改项目

摘　　要：分析了大学物理实验中传统的消光式椭偏仪实验存在的问题,提出以一种新型外差式椭偏测量系统取代.结合塞曼激光外差干涉和反射式椭偏测量原理,给出了光学结构设计.系统中没有任何运动部件,也无需手动操作,实验过程自动化程度高,测量速度快.

关 键 词：物理实验 椭偏仪 外差干涉 薄膜测量 激光外差干涉 测量实验 塞曼 大学物理实验 测量系统 自动化程度 

分 类 号：TN14[电子电信—物理电子学] TP334[自动化与计算机技术—计算机系统结构]