微机C—V测试系统  

作　　者：武希君[1] 

机构地区：[1]河北工学院自动化系

出　　处：《自动化与仪表》1989年第1期22-24,共3页Automation & Instrumentation

摘　　要：本文介绍用TP—801单板机与高频C—V特性测试仪组成的数据检测和处理系统。对TP—801单板机在数据处理方面的应用作了进一步的探讨,并介绍了系统的硬件配置和应用软件。图3幅。

关 键 词：C-V测试系统 微机 检测 半导体材料 

分 类 号：TN304.07[电子电信—物理电子学]