3种常用超细颗粒粒径测试方法的比对研究  

Comparison of Three Conventional Measurements of Ultrafine-particle Diameter

作　　者：王瑞斌[1] 何琳[1] 李刚[1] 钮晓鸣 何丹农 路庆华[1] 

机构地区：[1]上海交通大学分析测试中心,上海200030 [2]上海纳米科技与产业发展促进中心,上海200030

出　　处：《分析测试学报》2005年第6期119-121,共3页Journal of Instrumental Analysis

基　　金：国家科技公关项目(2003BA310A02);上海市纳米重大专项(0359nm206)

摘　　要：采用聚苯乙烯球形颗粒,对3种常用颗粒粒径测试仪器扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、光子相关光谱仪(PCS)的测试结果进行比对,结果表明,对于球形颗粒,3种测试方法所得到的颗粒粒径具有一致性。The diameters of the uhrafine PS （polystyrene） particles were measured by the conventional instruments： field emission scanning electron microscope （FESEM）, atomic force microscope （AFM） and photon correlation spectroscope （PCS）. The results showed that the average particle diameter obtained by these three instruments were in agreement with the standard particle diameter.

关 键 词：超细颗粒 粒径 光子相关光谱 原子力显微镜 扫描电镜 聚苯乙烯 

分 类 号：O432.2[机械工程—光学工程]