4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案  

出　　处：《世界电子元器件》2005年第9期83-83,共1页Global Electronics China

摘　　要：吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。

关 键 词：半导体特性分析系统 4200-SCS 脉冲式 测量方案 器件特性 测量功能 信号发生 200型 存储芯片 敏感器件 

分 类 号：TN305[电子电信—物理电子学] TN307