半导体特性分析系统

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相关机构：吉时利仪器公司中国电子科技集团第十三研究所南京工业大学更多>>
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半导体特性分析系统的维护管理探讨
《分析仪器》2020年第6期149-151,共3页李璐 杨丽娟 杨阳 
校内自选课题“基于安全、集约、共享的高校科研平台资源优化配置及管理模式创新”,项目编号:HED2019B-06;校内自选课题“跨学科教育视域下的人才培养模式研究”,项目编号:SZ20190404;江苏省教改课题“‘双一流’建设背景下研究生国际化培养实践路径探究”,项目编号:JGZZ19_044。
本半导体特性分析系统是集半导体特性分析仪和探针台为一体的电学综合测试分析系统,主要用于常规半导体器件和纳米器件的电学性能分析,并实时给出测试数据和图形。随着半导体技术的发展,半导体特性分析系统已成为高校科研和半导体行业...
关键词：半导体特性分析系统 培训 维护 
吉时利公司发布新产品
《通信世界》2008年第1期I0028-I0028,共1页
近日，吉时利公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—V测量功能——4200-CVU，同时发布业界领先的MIMO射频测试解决方案。吉时利公司介绍，4200—CVU改写了测试历史，具有开发时间短，学习过程容易，测试能力快...
关键词：吉时利公司 半导体特性分析系统 4200-SCS 测试解决方案 产品 测量功能 MIMO 公司介绍 
吉时利集成最新C-V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试
《通用机械》2008年第1期81-81,共1页
2007年10月22日吉时利宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（n...
关键词：测量模块 吉时利 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 
吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU
《电信科学》2007年第12期94-94,共1页
吉时利仪器公司宣布推出4200-CVU，为4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200S-CS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz频率范围内快速、方便地测量腰和nF级电容，具有直观的点击式配置界...
关键词：吉时利仪器公司 测量性能 半导体特性分析系统 4200-SCS 测量效率 C-V测量 C-V测量 测量功能 
4200-CVU：C-V测量功能模块
《世界电子元器件》2007年第11期74-74,共1页
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直...
关键词：C-V测量 功能模块 4200-SCS 半导体特性分析系统 测量功能 测量模块 频率范围 元件模型 
4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能
《今日电子》2007年第11期107-107,共1页
4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—VN量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直观的点击式...
关键词：半导体特性分析系统 4200-SCS 测量功能 测量模块 频率范围 元件模型 内置 
吉时利集成最新C—V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V／I—V／脉冲测试
《国外电子测量技术》2007年第11期24-24,共1页
吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）...
关键词：吉时利仪器公司 测量模块 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 
吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件
《国外电子测量技术》2007年第1期81-81,共1页
关键词：脉冲测试 测试软件 吉时利 4200-SCS 半导体特性分析系统 改良 测量软件 俄亥俄州 
吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件
《电子测试》2007年第1期109-109,共1页
吉时利日前发布6．1版交互式KTEI，暨功能强大的KTEI（吉时利交互式测试环境）测量软件之最新版本，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6．1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I—V能力并显著改进脉冲和DC测量的相关性。
关键词：脉冲测试 测试软件 吉时利 半导体特性分析系统 4200-SCS 改良 测量软件 最新版本 
吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件
《电子工业专用设备》2006年第12期70-71,共2页
关键词：脉冲测试 测试软件 吉时利 半导体特性分析系统 4200-SCS 测量软件 仪器公司 
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