吉时利集成最新C—V模块及软件,4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V/I—V/脉冲测试  

在线阅读下载全文

机构地区:[1]吉时利公司

出  处:《国外电子测量技术》2007年第11期24-24,共1页Foreign Electronic Measurement Technology

摘  要:吉时利仪器公司宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能——4200-CU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路,有8项专利正在申请中。

关 键 词:吉时利仪器公司 测量模块 SCS系统 脉冲测试 4200-SCS 半导体特性分析系统 软件 集成 

分 类 号:TN312.8[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象