4200-CVU:C-V测量功能模块  

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出  处:《世界电子元器件》2007年第11期74-74,共1页Global Electronics China

摘  要:吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。该设备具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C—V测量结果。

关 键 词:C-V测量 功能模块 4200-SCS 半导体特性分析系统 测量功能 测量模块 频率范围 元件模型 

分 类 号:TN307[电子电信—物理电子学] TN305

 

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