数控机床圆光栅位置测量系统的原理及维修(续一)  

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作  者:胡永文 

机构地区:[1]二重集团公司齿轮分厂

出  处:《设备管理与维修》1996年第11期14-15,共2页Plant Maintenance Engineering

摘  要:1.放大环节 由图6中N_1、N_2、N_2组成,它将光栅送来的两个互差90°的正弦信号U_(e1)和U_(e2)经放大后,得到变化规律为sinωt、cosωt、-sinωt的3个信号。 2.细分和整形环节 由图6中N_4和N_5组成,作用是将放大后的信号细分和整形成依次互差18°的方波信号,原理如图7。它所采用的是电阻链细分和比较器整形变方。

关 键 词:数控机床 圆光栅 位置测量系统 

分 类 号:TG659[金属学及工艺—金属切削加工及机床]

 

参考文献:

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引证文献:

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