复杂性的增加迫使我们越来越注意可测性问题  

作　　者：Bernie Meyerson 

机构地区：[1]IBM系统和技术有限公司

出　　处：《电子产品世界》2006年第01S期63-63,共1页Electronic Engineering & Product World

关 键 词：可测性 复杂性 POWER4 微处理器 系统性能 时钟频率 核设计 内核 芯片 器件 

分 类 号：TP332[自动化与计算机技术—计算机系统结构]