振荡器的高可靠性研究  

作　　者：娄书礼[1] 

机构地区：[1]南京电子器件研究所,210016

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》1996年第2期54-56,共3页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：1 前言随机抽取了5部x波段GaAsFET高Q介质谐振振荡器进行额定工作寿命试验,连续工作了4年多而无一失效;然后接着进行室温条件下非工作状态贮存寿命试验,历经7年未发现实质性恶变,统计数据证实该振荡器的可靠性是相当高的。本文给出了试验测量结果,并对其可靠性进行了评价分析。2 振荡器简介高Q介质谐振振荡器是产生固定频率的理想振荡器。在1—5GHz频段通常使用双极晶体管做为振荡器的有源器件,而在4—18GHz频段一般使用GaAsFET作为振荡器的有源器件。

关 键 词：振荡器 可靠性 测试 

分 类 号：TN752.07[电子电信—电路与系统]