偏F—检验的局部影响分析  

Local Influence Analysis for Biased F-Testing

作　　者：胡光涛[1] 石磊[1] 

机构地区：[1]云南大学统计系云南省应用数学研究所,昆明650091

出　　处：《数理统计与应用概率》1996年第2期113-122,共10页

摘　　要：本文针对一般线性回归模型,利用局部影响的思想,采用求导的方法,研究了在三种扰动方式下(方差加权扰动,响应扰动,设计阵列扰动),偏F—检验的最大影响。通过实例分析,取得了较为满意的结果。

关 键 词：局部影响 线性回归模型 统计量 偏F检验 

分 类 号：O212.1[理学—概率论与数理统计]