AMAT发布采用UV固化技术的low-k成膜设备  

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出  处:《机电工程技术》2006年第1期9-9,共1页Mechanical & Electrical Engineering Technology

摘  要:美国应用材料公司(AMAT)日前发布了面向45nm工艺(hp65)、能够形成相对介电常数为2.5的低介电常数(low-k)膜的CVD设备“Applied Producer Balck Diamond Ⅱ”。

关 键 词:成膜设备 UV固化技术 PRODUCER Applied Diamond 应用材料公司 相对介电常数 CVD设备 低介电常数 

分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学] TQ325.14[化学工程—合成树脂塑料工业]

 

参考文献:

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