用于混合信号系统的模/数分块一体化测试技术  

Unified Analog-Digital Test Technology for Mixed-Signal System

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作  者:成立[1] 李加元[1] 王振宇[1] 李华乐[1] 贺星[1] 

机构地区:[1]江苏大学电气与信息工程学院,江苏镇江212013

出  处:《半导体技术》2006年第2期127-131,134,共6页Semiconductor Technology

基  金:江苏省高校自然科学研究基金项目(02KJB510005)

摘  要:为了解决混合信号系统中三种模块:模拟、数字和存储器接口之间存在的难以测试的问题, 讨论了一种模拟/数字一体化的测试技术,包括三种模块的测试方法、系统测试的分块、可测性设计 (DFT)、自测试策略和方案等,并说明了互连测试和准静态电流IDDQ测试法可为该项新技术提供有效的解决方案。In order to solve the difficult test problems among the analogue circuit, digital circuit and memory interface modules, a unified analog-digital test technology is introduced, including the above 3 modules tests, partitioned architecture of system test, design for testability (DFT), strategy and scheme of self-test and so on. Also the interconnecting test and IDDQ test methods can provide effective solutions for the new technology.

关 键 词:混合信号系统 数字一体化 测试技术 分块 存储器接口 可测性设计 测试方法 系统测试 测试策略 IDDQ 

分 类 号:TP335[自动化与计算机技术—计算机系统结构] TS803[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

 

参考文献:

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引证文献:

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