检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:成立[1] 李加元[1] 王振宇[1] 李华乐[1] 贺星[1]
机构地区:[1]江苏大学电气与信息工程学院,江苏镇江212013
出 处:《半导体技术》2006年第2期127-131,134,共6页Semiconductor Technology
基 金:江苏省高校自然科学研究基金项目(02KJB510005)
摘 要:为了解决混合信号系统中三种模块:模拟、数字和存储器接口之间存在的难以测试的问题, 讨论了一种模拟/数字一体化的测试技术,包括三种模块的测试方法、系统测试的分块、可测性设计 (DFT)、自测试策略和方案等,并说明了互连测试和准静态电流IDDQ测试法可为该项新技术提供有效的解决方案。In order to solve the difficult test problems among the analogue circuit, digital circuit and memory interface modules, a unified analog-digital test technology is introduced, including the above 3 modules tests, partitioned architecture of system test, design for testability (DFT), strategy and scheme of self-test and so on. Also the interconnecting test and IDDQ test methods can provide effective solutions for the new technology.
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