光电子成像电子能谱仪新一代DLD(延迟线检测器)系统  

Noval delay line detector(DLD)system for electron spectrometer of imaging XPS

作　　者：黄惠忠[1] 

机构地区：[1]河南大学特种功能材料重点实验室,开封475001

出　　处：《现代仪器》2006年第1期13-14,共2页Modern Instruments

摘　　要：介绍新型X射线激发光电子成像电子能谱仪配置新一代DLD光电子检测系统优点、结构和在能谱和成像应用方面特点。The delay-line detector（DLD）system represents the next generation of photoelectron detectors for electron spectrometer of imaging XPS etc. Its advantages, configurations and features in application to both Spectroscopes and X-ray photoelectrons imaging are introduced in this paper.

关 键 词：成像XPS 延迟线检测器(DLD)“快照” 多变量 成像分析(MLA) 

分 类 号：TH838.2[机械工程—仪器科学与技术] TN223[机械工程—精密仪器及机械]