一种混合模式BIST的低功耗设计  

Low power design of mixed-mode BIST

作　　者：陈卫兵[1] 赵明[1] 

机构地区：[1]阜阳师范学院物理系,阜阳236032

出　　处：《国外电子测量技术》2006年第2期48-50,共3页Foreign Electronic Measurement Technology

摘　　要：针对一种基于折叠集的test-per-clock结构的混合模式BIST进行了低功耗优化设计。该设计方案针对伪随机测试序列与折叠测试序列采用了不同的方法来优化测试生成器,在电路结构上利用双模式LFSR将两部分测试生成器有机地进行了结合。This paper gives a new low power optimization design for the mixed-mode BIST of testper clock structure based on folding set. Different methods are used to optimize test generator of the pseudo random test sequences and the folding test sequences. In circuit structure, two-mode LFSR is applied for the organic combination of the two test generators.

关 键 词：低功耗设计 BIST 测试生成器 LFSR 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]