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作 者:邬祥生[1] 李允平[1] 吴学海[1] 吕章德[1] 龚连根 周萍[1] 吴长川
机构地区:[1]中国科学院上海冶金研究所
出 处:《Journal of Semiconductors》1990年第4期258-261,共4页半导体学报(英文版)
基 金:国家高技术计划;国家自然科学基金
摘 要:本文报道了InGaAsP/InP脊形相位调制器的初步研究结果。采用水平液相外延,常规器件工艺和湿法化学腐蚀方法,制得了波导宽度4—8μm,反向击穿电压3—5V的相位调制器。用Mach—Zehnder干涉光路,和1.52μum激光源对器件进行测量,得到迄今最高的相位移效率—TE和TM模分别为60°/V·mm和43°/V·mm。A ridge optical waveguide InGaAsP/InP phase modulator is reported. The devices with aridge width of 4-8μm were fabricated by liquid phase epitaxy, wet chemical etching and otherconventional techniques.The largest phase shifting efficiency of 60°/V·mm and 43°/V·mm forTE and TM mode, respectively, ever reported for a reverse biased structure was observed at1.52μm wavelength.
分 类 号:TN761.3[电子电信—电路与系统]
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